(2012/1/26 0:06:00)
用萬(wàn)用表R×1K擋，紅、黑兩表筆交替接自閃發(fā)光二極管的兩根引線(xiàn)，當(dāng)發(fā)現(xiàn)其中一次測(cè)量，表針先向右擺動(dòng)一定距離，然后表針在此位置上開(kāi)始輕微抖動(dòng)（振蕩），如圖所示，擺動(dòng)幅度在一小格左右。這種現(xiàn)象說(shuō)明自閃發(fā)光二極管內(nèi)部的集成電路在萬(wàn)用表內(nèi)部1.5V電池電壓的作用下開(kāi)始振蕩，輸出的脈沖電流使指針產(chǎn)生抖動(dòng)，只是...
(2012/1/26 0:01:00)
測(cè)試紅外發(fā)光二極管的好壞，可以按照測(cè)試普通硅二極管正反向電阻的方法測(cè)試。把萬(wàn)用表?yè)茉赗×100或R×1K擋，黑表筆接紅外發(fā)光二極管正極，紅表筆接負(fù)極，測(cè)得正向電阻應(yīng)在20≈40K；黑表筆接紅外發(fā)光二極管負(fù)極，紅表筆接正極，測(cè)得反向電阻應(yīng)大于500K以上。...
(2012/1/25 0:54:00)
區(qū)分光敏三極管的“E”和“C”：把接收管對(duì)著自然光或燈光，用紅、黑表筆分別接光敏三極管的兩根引出線(xiàn)，然后把紅、黑表筆對(duì)調(diào)，再去接觸接收管的兩個(gè)電極，兩次測(cè)量中阻值小的那次，黑表筆接的就是光敏三極管的“C”極。紅表筆接的就是光敏三極管的“E”極。檢查光電開(kāi)關(guān)的好壞可以采用雙表法，如圖1-1所示，在光線(xiàn)...
(2012/1/25 0:49:00)
測(cè)試方法：將萬(wàn)用表調(diào)至25V直流擋。兩表筆分別接于電池的測(cè)試端，萬(wàn)用表即顯示出兩電池的串聯(lián)電壓（18V）。將待測(cè)穩(wěn)壓管的正負(fù)極分別接觸到表筆正負(fù)極上。萬(wàn)用表所顯示的電壓值則為穩(wěn)壓管的穩(wěn)壓值。若萬(wàn)用表所顯示的電壓不變，則說(shuō)明穩(wěn)壓管的穩(wěn)壓值高于電池的電壓或內(nèi)部斷路。若萬(wàn)用表顯示的電壓大大低于預(yù)測(cè)值，接近...
(2012/1/25 0:44:00)
雙向晶閘管除了一個(gè)電極G仍然叫控制極外，另外兩個(gè)電極通常不再叫陽(yáng)極和陰極，而統(tǒng)稱(chēng)為主電極T1和T2。雙向晶閘管是一種N-P-N-P-N型5層結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體，其符號(hào)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖見(jiàn)右圖。用萬(wàn)用表區(qū)分雙向晶閘管電極的方法是：首先找出主電極T2。將萬(wàn)用表置于R×100擋，用黑表筆接雙向晶閘管的任一個(gè)電極，紅表...
(2012/1/25 0:39:00)
紅外對(duì)管的內(nèi)部結(jié)構(gòu)如圖１所示。圖１（ａ）是紅外發(fā)射管，管芯中央凹陷，類(lèi)似聚光罩的形狀。圖１（ｂ）是紅外接收管，管芯中央的平臺(tái)上有紅外感光電極。紅外對(duì)管的兩引腳１長(zhǎng)１短，長(zhǎng)引腳是正極，和普通發(fā)光管相同。２．用三用表測(cè)量識(shí)別可用５００型或其他型號(hào)指針式三用表的１ｋΩ電阻擋，測(cè)量紅外對(duì)管的極間...
(2012/1/25 0:34:00)
一、電阻器的檢測(cè)方法與經(jīng)驗(yàn)： 1固定電阻器的檢測(cè)。A將兩表筆(不分正負(fù))分別與電阻的兩端引腳相接即可測(cè)出實(shí)際電阻值。為了提高測(cè)量精度，應(yīng)根據(jù)被測(cè)電阻標(biāo)稱(chēng)值的大小來(lái)選擇量程。由于歐姆擋刻度的非線(xiàn)性關(guān)系，它的中間一段分度較為精細(xì)，因此應(yīng)使指針指示值盡可能落到刻度的中段位置，即全刻度起始的20％～8...
(2012/1/25 0:29:00)
萬(wàn)用表置R×lk檔，兩表筆分別接二極管的兩極，若測(cè)得的電阻較小(硅管數(shù)干歐、鍺管數(shù)百歐)，說(shuō)明二極管的PN結(jié)處于正向偏置，則黑表筆接的是正極，紅表筆接的是負(fù)極。反之二極管處于反向偏置時(shí)，呈現(xiàn)的電阻較大(硅管約數(shù)百千歐以上，鍺管約數(shù)百干歐)，則紅表筆接的是正極， 黑表筆接的是負(fù)極。若正反向電阻均為無(wú)窮...
(2012/1/25 0:24:00)
1．微處理器集成電路的檢測(cè) 微處理器集成電路的關(guān)鍵測(cè)試引腳是VDD電源端、RESET復(fù)位端、XIN晶振信號(hào)輸入端、XOUT晶振信號(hào)輸出端及其他各線(xiàn)輸入、輸出端。在路測(cè)量這些關(guān)鍵腳對(duì)地的電阻值和電壓值，看是否與正常值（可從產(chǎn)品電路圖或有關(guān)維修資料中查出）相同。不同型號(hào)微處理器的RESET復(fù)位電壓也不相...
(2012/1/25 0:19:00)
激光二極管性能檢測(cè)方法激光二極管性能檢測(cè)方法1．阻值測(cè)量法 拆下激光二極管，用萬(wàn)用表R×1k或R×10k檔測(cè)量其正、反向電阻值。正常時(shí)，正向電阻值為20~40kΩ之間，反向電阻值為∞（無(wú)窮大）。若測(cè)得正向電阻值已超過(guò)50kΩ，則說(shuō)明激光二極...
博客檔案
IC郵購(gòu)網(wǎng)博客
日志總數(shù)： 2510
