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點擊查看74HSTL16919DGGRG4參考圖片 74HSTL16919DGGRG4 Texas Instruments 48-TSSOP 特定功能邏輯 9B-18B HSTL-LVTTL Mem Address Latch
參數:Texas Instruments|卷帶(TR)|74HSTL|停產|D 型,可尋址|9:18|標準|3.15V ~ 3.45V|1|1.9ns|24mA,24...
點擊查看74HSTL162822DGGRE4參考圖片 74HSTL162822DGGRE4 Texas Instruments 64-TSSOP 特定功能邏輯 14-28B HSTL-LVTTL Mem Add. Latch
參數:Texas Instruments|卷帶(TR)|74HSTL|停產|D 型,可尋址|14:28|三態|3.15V ~ 3.45V|1|1.7ns|12mA,1...
點擊查看74HSTL162822DGGRG4參考圖片 74HSTL162822DGGRG4 Texas Instruments 64-TSSOP 特定功能邏輯 14B-28B HSTL-LVTTL Mem Address Latch
參數:Texas Instruments|卷帶(TR)|74HSTL|停產|D 型,可尋址|14:28|三態|3.15V ~ 3.45V|1|1.7ns|12mA,1...
點擊查看74LVT18512DGGRE4參考圖片 74LVT18512DGGRE4 Texas Instruments TSSOP-64 特定功能邏輯 3.3V ABT Scan Test Device
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVT18512,封裝形式:TSSOP-64,包裝形式:Reel...
74LVT18512DGGRG4 Texas Instruments TSSOP-64 特定功能邏輯 3.3V ABT Scan Test Devices
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVT18512,工作電源電壓:2.7 V to 3.6 V,封...
點擊查看74LVTH182502APMG4參考圖片 74LVTH182502APMG4 Texas Instruments LQFP-64 特定功能邏輯 3.3V ABT Scan Test Devices
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVTH182502A,封裝形式:LQFP-64,包裝形式:Tr...
點擊查看74LVTH182502APMRG4參考圖片 74LVTH182502APMRG4 Texas Instruments LQFP-64 特定功能邏輯 3.3V ABT Scan Test Devices
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVTH182502A,封裝形式:LQFP-64,包裝形式:Re...
點擊查看74LVTH182504APMG4參考圖片 74LVTH182504APMG4 Texas Instruments 64-LQFP(10x10) 特定功能邏輯 3.3V ABT Scan Test Devices
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVTH182504A,封裝形式:LQFP-64,包裝形式:Tr...
點擊查看74LVTH182512DGGRE4參考圖片 74LVTH182512DGGRE4 Texas Instruments TSSOP-64 特定功能邏輯 3.3-V ABT w/18-Bit Univ Bus Transceiver
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVTH182512,工作電源電壓:2.7 V to 3.6 V...
74LVTH182512DGGRG4 Texas Instruments TSSOP-64 特定功能邏輯 3.3V ABT Scan Test Devices
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVTH182512,工作電源電壓:3.3 V,封裝形式:TSS...
點擊查看74LVTH182646APMG4參考圖片 74LVTH182646APMG4 Texas Instruments LQFP-64 特定功能邏輯 3.3V ABT Scan Test Devices
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVTH182646A,工作電源電壓:3.3 V,封裝形式:LQ...
點擊查看74LVTH182652APMG4參考圖片 74LVTH182652APMG4 Texas Instruments LQFP-64 特定功能邏輯 3.3V ABT Scan Test Devices
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVTH182652A,工作電源電壓:3.3 V,封裝形式:LQ...
點擊查看74LVTH18502APMRG4參考圖片 74LVTH18502APMRG4 Texas Instruments 64-LQFP(10x10) 特定功能邏輯 3.3V ABT Scan Test Devices
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVTH18502A,工作電源電壓:3.3 V,封裝形式:LQF...
點擊查看74LVTH18504APMRG4參考圖片 74LVTH18504APMRG4 Texas Instruments LQFP-64 特定功能邏輯 3.3V ABT Scan Test Devices
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVTH18504A,工作電源電壓:3.3 V,封裝形式:LQF...
點擊查看74LVTH18512DGGRE4參考圖片 74LVTH18512DGGRE4 Texas Instruments TSSOP-64 特定功能邏輯 3.3-V ABT w/18-Bit Univ Bus Transceiver
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVTH18512,工作電源電壓:2.7 V to 3.6 V,...
點擊查看74LVTH18512DGGRG4參考圖片 74LVTH18512DGGRG4 Texas Instruments TSSOP-64 特定功能邏輯 3.3V ABT Scan Test Devices
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVTH18512,工作電源電壓:3.3 V,封裝形式:TSSO...
點擊查看74LVTH18514DGGRE4參考圖片 74LVTH18514DGGRE4 Texas Instruments TSSOP-64 特定功能邏輯 3.3-V ABT w/20-Bit Univ Bus Transceiver
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVTH18514,工作電源電壓:2.7 V to 3.6 V,...
74LVTH18514DGGRG4 Texas Instruments TSSOP-64 特定功能邏輯 3.3V ABT Scan Test Devices
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVTH18514,工作電源電壓:3.3 V,封裝形式:TSSO...
點擊查看74SSTU32864CZKER-J參考圖片 74SSTU32864CZKER-J Texas Instruments BGA-96 特定功能邏輯 25-Bit Configurable Registered Buffer
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,產品:DIMM Memory Drivers & Transceivers,系...
點擊查看1L8980ADWRG4參考圖片 1L8980ADWRG4 Texas Instruments 特定功能邏輯 Embedded Test-Bus Controllers
參數:制造商:Texas Instruments,產品種類:特定功能邏輯,RoHS:是,系列:SN74LVT8980A,包裝形式:Reel,工廠包裝數量:2000,...

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